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MueTec 成立于1991年(nian),总(zong)部位于德国慕尼黑。致力于开(kai)发高精度光学测量(liang)和检测解决方案,帮(bang)助全球半导体和微电子行业的客(ke)户提高他们的生产(chan)良率和过(guo)程(cheng)控制(zhi)已有(you)近30年(nian)历史.

MueTec 在(zai)亚微(wei)米级的(de)检测(ce)和(he)测(ce)量(liang)领(ling)域有着丰富(fu)的(de)经(jing)验和(he)长期(qi)的(de)声誉(yu),在(zai)过去30年里,已经(jing)在(zai)世(shi)界各地安(an)装了超(chao)过300套(tao)半导(dao)体光(guang)学测(ce)量(liang)和(he)检测(ce)系统,在(zai)不同的(de)工艺条件下为(wei)客户持续提供可靠的(de)数据与(yu)无与(yu)伦比的(de)重(zhong)复性.

MueTec 的技术专家团队倾听、响应(ying)和(he)预测(ce)全(quan)球的晶圆、掩膜、MEMS、MOEMS 制造商的需求(qiu),并以极(ji)低的维护要求(qiu)提供定制化和(he)标(biao)准的解决方(fang)案。可扩展的系统(tong)允许在一个(ge)系统(tong)中结合多种不同的应(ying)用,包括关键尺寸( CD)、套刻(Overlay)和(he)薄膜厚(hou)度(Film Thickness)测(ce)量,以及缺(que)陷检(jian)测(ce)(Defect Inspection)和(he)缺(que)陷 Review.

2020年(nian)与天准科技签(qian)订全资收购协议.

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